隨著科技的不斷發(fā)展，可燒錄IC的集成度和普及度愈來(lái)愈高，對(duì)IC燒錄器的生產(chǎn)能力要求也越來(lái)越高。中國(guó)已成為世界電子產(chǎn)品的制造工廠，必然是燒錄器比較大需求地區(qū)，電子廠的IC芯片燒錄是在組裝前將控制程序或數(shù)據(jù)寫入IC元器件的重要工序，這一工序通常由電子產(chǎn)品制造商來(lái)實(shí)現(xiàn)。傳統(tǒng)的燒錄工藝是由人工來(lái)操作，效率低，且質(zhì)量難以保證，已經(jīng)很難適應(yīng)電子制造業(yè)的快速發(fā)展要求。自動(dòng)IC燒錄機(jī)的出現(xiàn)為電子制造業(yè)提升效率和質(zhì)量帶來(lái)了全新的選擇，并逐漸代替人工，成為IC芯片燒錄的主流設(shè)備。一顆芯片要做到終端產(chǎn)品上，一般要經(jīng)過(guò)芯片設(shè)計(jì)、晶圓制造、晶圓測(cè)試、封裝、成品測(cè)試、板級(jí)封裝等環(huán)節(jié)。佛山MCU芯片測(cè)試過(guò)程
首先說(shuō)一下設(shè)計(jì)驗(yàn)證環(huán)節(jié)設(shè)計(jì)驗(yàn)證指芯片設(shè)計(jì)公司分別使用測(cè)試機(jī)和探針臺(tái)、測(cè)試機(jī)和分選機(jī)對(duì)晶圓樣品檢測(cè)和集成電路封裝樣品的成品測(cè)試，驗(yàn)證樣品功能和性能的有效性。其次晶圓檢測(cè)是指在晶圓制造完成后進(jìn)行封裝前，通過(guò)探針臺(tái)和測(cè)試機(jī)配合使用，對(duì)晶圓上的芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)性能測(cè)試，其測(cè)試過(guò)程為：探針臺(tái)將晶圓逐片自動(dòng)傳送至測(cè)試位置，芯片的Pad點(diǎn)通過(guò)探針、專門使用連接線與測(cè)試機(jī)的功能模塊進(jìn)行連接，測(cè)試機(jī)對(duì)芯片施加輸入信號(hào)、采集輸出信號(hào)，判斷芯片在不同工作條件下功能和性能的有效性。測(cè)試結(jié)果通過(guò)通信接口傳送給探針臺(tái)，探針臺(tái)據(jù)此對(duì)芯片進(jìn)行打點(diǎn)標(biāo)記，形成晶圓的Map圖。佛山MCU芯片測(cè)試過(guò)程在芯片設(shè)計(jì)階段，需要對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行驗(yàn)證，以確保其功能正確、性能滿足要求。
IC測(cè)試程序繁瑣，要求很高。晶圓測(cè)試和成品測(cè)試本質(zhì)上都是集成電路的電學(xué)性能測(cè)試，包括芯片的電特性、電學(xué)參數(shù)和電路功能，其功能是器件的行為（能力），特性是器件行為的表現(xiàn)，而特性參數(shù)是器件的主要特征。因此，電性能測(cè)試就是對(duì)集成電路的電特性、電參數(shù)和功能在不同條件下進(jìn)行的檢驗(yàn)。此外，在IC測(cè)試的過(guò)程中還會(huì)相應(yīng)地采取一系列測(cè)試規(guī)范以提高集成電路設(shè)計(jì)、工藝控制和使用水平，具體包括特性規(guī)范、生產(chǎn)規(guī)范、用戶規(guī)范和壽命終結(jié)規(guī)范，分別對(duì)應(yīng)芯片工作條件的容許限度和電路性能達(dá)標(biāo)的評(píng)價(jià)、生產(chǎn)過(guò)程中的在線測(cè)試、用戶驗(yàn)收測(cè)試、可靠性評(píng)估。
對(duì)于芯片，有兩種類型的測(cè)試，抽樣測(cè)試和生產(chǎn)測(cè)試。抽樣測(cè)試，如設(shè)計(jì)過(guò)程中的驗(yàn)證測(cè)試、芯片可靠性測(cè)試、芯片特性測(cè)試等，都是抽樣測(cè)試。主要目的是驗(yàn)證芯片是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo)。例如，驗(yàn)證測(cè)試是從功能方面驗(yàn)證芯片是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo)，可靠性測(cè)試是確認(rèn)z端子芯片的壽命以及它是否對(duì)環(huán)境具有一定程度的魯棒性，特性測(cè)試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)的冗余性。生產(chǎn)測(cè)試需要100%的測(cè)試，這是一個(gè)找出缺陷并將壞產(chǎn)品與好產(chǎn)品區(qū)分開(kāi)來(lái)的過(guò)程。在芯片的價(jià)值鏈中，根據(jù)不同階段可分為晶圓測(cè)試和Z端測(cè)試動(dòng)態(tài)測(cè)試主要是對(duì)芯片的功能進(jìn)行測(cè)試，如輸入輸出的正確性、時(shí)序的準(zhǔn)確性等。
芯片融合時(shí)代：測(cè)試也要“上天”過(guò)去簡(jiǎn)單的電子技術(shù)就可以滿足的需求，如今可能需要人工智能、機(jī)器學(xué)習(xí)、無(wú)人駕駛、醫(yī)療儀器、基礎(chǔ)設(shè)施擴(kuò)建等多元覆蓋實(shí)現(xiàn)。終端應(yīng)用領(lǐng)域?qū)τ诎雽?dǎo)體技術(shù)的要求亦呈指數(shù)增長(zhǎng)。因此，半導(dǎo)體元器件必須具備極高的可靠性，半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備對(duì)于供應(yīng)鏈的價(jià)值也由此變得更加重要。對(duì)應(yīng)迅速更新迭代的智能世界，先進(jìn)制程升級(jí)要求半導(dǎo)體檢測(cè)技術(shù)快速迭代，因而對(duì)于ATE機(jī)臺(tái)來(lái)說(shuō)，平臺(tái)通用化、模塊化、靈活性高、可升級(jí)是未來(lái)技術(shù)發(fā)展的大趨勢(shì)。系統(tǒng)級(jí)測(cè)試（SLT，systemleveltest）、大數(shù)據(jù)分析、ATPG編程自動(dòng)化等，都是測(cè)試領(lǐng)域應(yīng)對(duì)未來(lái)半導(dǎo)體市場(chǎng)發(fā)展面臨的挑戰(zhàn)，這需要測(cè)試設(shè)備廠商有超前的技術(shù)眼光，隨時(shí)跟進(jìn)市場(chǎng)需求芯片測(cè)試是指在芯片生產(chǎn)出來(lái)之后利用ATE對(duì)芯片功能進(jìn)行的一種物理檢查。中國(guó)臺(tái)灣大容量芯片測(cè)試哪家好
芯片測(cè)試是通過(guò)對(duì)芯片進(jìn)行電氣特性測(cè)試、功能測(cè)試、時(shí)序測(cè)試等手段來(lái)評(píng)估芯片的性能和可靠性。佛山MCU芯片測(cè)試過(guò)程
怎么樣進(jìn)行芯片測(cè)試?這需要專業(yè)的ATE也即automatictestequipment.以finaltest為例,先根據(jù)芯片的類型,比如automotive,MixedSignal,memory等不同類型,選擇適合的ATE機(jī)臺(tái).在此基礎(chǔ)上,根據(jù)芯片的測(cè)試需求,(可能有一個(gè)叫testspecification的文檔,或者干脆讓測(cè)試工程師根據(jù)datasheet來(lái)設(shè)計(jì)testspec),做一個(gè)完整的testplan.在此基礎(chǔ)上,設(shè)計(jì)一個(gè)外圍電路loadboard,一般我們稱之為DIBorPIBorHIB,以連接ATE機(jī)臺(tái)的instrument和芯片本身.同時(shí),需要進(jìn)行test程序開(kāi)發(fā),根據(jù)每一個(gè)測(cè)試項(xiàng),進(jìn)行編程,操控instrument連接到芯片的引腳,給予特定的激勵(lì)條件,然后去捕捉芯片引腳的反應(yīng),例如給一個(gè)電信號(hào),可以是特定的電流,電壓,或者是一個(gè)電壓波形,然后捕捉其反應(yīng).根據(jù)結(jié)果,判定這一個(gè)測(cè)試項(xiàng)是pass或者fail.在一系列的測(cè)試項(xiàng)結(jié)束以后,芯片是好還是不好,就有結(jié)果了.好的芯片會(huì)放到特定的地方,不好的根據(jù)fail的測(cè)試類型分別放到不同的地方佛山MCU芯片測(cè)試過(guò)程